SRAM testing under Neutron Radiation for the evaluation of different algorithms stress
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Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | 15ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique |
| Author | Tsiligiannis, Georgios, Dilillo, Luigi, Bosio, Alberto, Girard, Patrick, Todri-Sanial, Aida, Virazel, Arnaud |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 11, 2026, 17:35 (UTC) |
| Created | May 11, 2026, 17:35 (UTC) |
| Identifier | lirmm-00807054 |
| Language | en |
| contributor | Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (SysMIC) ; Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM) ; Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| coverage | Marseille, France |
| creator | Tsiligiannis, Georgios |
| date | 2012-06-18T00:00:00 |
| harvest_object_id | d9cc2e44-cdb0-4a6e-97ca-c7ed869245c8 |
| harvest_source_id | 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657 |
| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2023-03-24T00:00:00 |
| set_spec | type:COMM |
