SRAM testing under Neutron Radiation for the evaluation of different algorithms stress

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Field Value
Source 15ème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique
Author Tsiligiannis, Georgios, Dilillo, Luigi, Bosio, Alberto, Girard, Patrick, Todri-Sanial, Aida, Virazel, Arnaud
Maintainer CCSD
Last Updated May 11, 2026, 17:35 (UTC)
Created May 11, 2026, 17:35 (UTC)
Identifier lirmm-00807054
Language en
contributor Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (SysMIC) ; Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM) ; Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
coverage Marseille, France
creator Tsiligiannis, Georgios
date 2012-06-18T00:00:00
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harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2023-03-24T00:00:00
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