Modeling of InP Etching Under ICP Cl2/Ar/N2 Plasma Mixture: Effect of N2 on the Etch Anisotropy Evolution

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Source ISSN: 1612-8850
Author Chanson, Romain, Rhallabi, A., Claude Fernandez, Marie, Cardinaud, Christophe
Maintainer CCSD
Last Updated May 5, 2026, 15:57 (UTC)
Created May 5, 2026, 15:57 (UTC)
Identifier hal-00975499
Language en
contributor Institut des Matériaux Jean Rouxel (IMN) ; Université de Nantes - UFR des Sciences et des Techniques (UN UFR ST) ; Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes (EPUN) ; Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
creator Chanson, Romain
date 2013-05-05T00:00:00
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harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2024-04-11T00:00:00
relation info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1002/ppap.201200083
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