Sélection de lots pour mesures de défectivité en fabrication microélectronique
Data and Resources
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | ROADEF - 15ème congrès annuel de la Société française de recherche opérationnelle et d'aide à la décision |
| Author | Housseman, Sylvain, Rodriguez-Verjan, Gloria, Dauzère-Pérès, Stéphane, Yugma, Claude, Pinaton, Jacques |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 6, 2026, 12:13 (UTC) |
| Created | May 6, 2026, 12:13 (UTC) |
| Identifier | hal-00946379 |
| Language | fr |
| contributor | Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, Centre Microélectronique de Provenc (EMSE-CMP) ; Ministère du Redressement productif |
| coverage | Bordeaux, France |
| creator | Housseman, Sylvain |
| date | 2014-02-26T00:00:00 |
| harvest_object_id | 0c821ad1-bf4d-4955-a705-a127f11d560f |
| harvest_source_id | 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657 |
| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2024-09-18T00:00:00 |
| set_spec | type:COMM |
