Sélection de lots pour mesures de défectivité en fabrication microélectronique

International audience

Data and Resources

Additional Info

Field Value
Source ROADEF - 15ème congrès annuel de la Société française de recherche opérationnelle et d'aide à la décision
Author Housseman, Sylvain, Rodriguez-Verjan, Gloria, Dauzère-Pérès, Stéphane, Yugma, Claude, Pinaton, Jacques
Maintainer CCSD
Last Updated May 6, 2026, 12:13 (UTC)
Created May 6, 2026, 12:13 (UTC)
Identifier hal-00946379
Language fr
contributor Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, Centre Microélectronique de Provenc (EMSE-CMP) ; Ministère du Redressement productif
coverage Bordeaux, France
creator Housseman, Sylvain
date 2014-02-26T00:00:00
harvest_object_id 0c821ad1-bf4d-4955-a705-a127f11d560f
harvest_source_id 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657
harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2024-09-18T00:00:00
set_spec type:COMM