Characterization of carbon nanotube field effect transistors using an active load pull LSNA setup

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Source 71st ARFTG Microwave Measurement Conference, IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, IMS 2008
Author Gaquière, Christophe, Curutchet, Arnaud, Theron, Didier, Werquin, Matthieu, Ducatteau, Damien, Bethoux, Jean-Marc, Happy, Henri, Dambrine, Gilles, Derycke, Vincent
Maintainer CCSD
Last Updated May 12, 2026, 14:10 (UTC)
Created May 12, 2026, 14:10 (UTC)
Identifier hal-00800982
Language en
contributor Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN) ; Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
coverage Atlanta, GA, United States
creator Gaquière, Christophe
date 2008-06-20T00:00:00
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harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2024-04-26T00:00:00
relation info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/MWSYM.2008.4633311
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