Synchrotron X-ray diffraction analysis for quantitative defect evaluation in GaP/Si nanolayers
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Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | ISSN: 0040-6090 |
| Author | Nguyen, Thanh Tra, Robert, Cédric, Robert, Létoublon, Antoine, Cornet, Charles, Quinci, Thomas, Giudicelli, Emmanuel, Almosni, Samy, Boudet, Nathalie, Ponchet, Anne, Kuyyalil, Jithesh, Danila, Mihai, Durand, Olivier, Bertru, Nicolas, Le Corre, Alain |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 14, 2026, 11:53 (UTC) |
| Created | May 14, 2026, 11:53 (UTC) |
| Identifier | hal-00788396 |
| Language | en |
| contributor | Fonctions Optiques pour les Technologies de l'informatiON (FOTON) ; Université de Rennes (UR)-Université européenne de Bretagne - European University of Brittany (UEB)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-École Nationale Supérieure des Sciences Appliquées et de Technologie (ENSSAT)-Télécom Bretagne-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| creator | Nguyen, Thanh Tra |
| date | 2013-08-31T00:00:00 |
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| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2025-10-22T00:00:00 |
| relation | info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1016/j.tsf.2012.11.116 |
| set_spec | type:ART |