High-temperature die-attaches for SiC power devices
Data and Resources
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | Proceedings of the IEEE 14th European Conference on Power Electronics and Application |
| Author | Masson, Amandine, Buttay, Cyril, Morel, Hervé, Raynaud, Christophe, Hascoët, Stanislas, Gremillard, Laurent |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 27, 2026, 17:01 (UTC) |
| Created | May 27, 2026, 17:01 (UTC) |
| Identifier | hal-00672602 |
| Language | en |
| Rights | https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/ |
| contributor | Ampère (AMPERE) ; École Centrale de Lyon (ECL) ; Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE) |
| coverage | Birmingham, United Kingdom |
| creator | Masson, Amandine |
| date | 2011-08-30T00:00:00 |
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| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2026-03-10T00:00:00 |
| set_spec | type:COMM |