Fabrication et caractérisation électrique de résistances à base de nanofils de silicium
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Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | Proceedings CETSIS 2011 |
| Author | Pichon, Laurent, Demami, Fouad, Rogel, Régis, Mohammed-Brahim, Tayeb |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 28, 2026, 08:18 (UTC) |
| Created | May 28, 2026, 08:18 (UTC) |
| Identifier | hal-00671098 |
| Language | fr |
| Rights | https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/ |
| contributor | Institut d'Electronique et de Télécommunications de Rennes (IETR) ; Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| coverage | Trois rivières, Canada |
| creator | Pichon, Laurent |
| date | 2011-10-23T00:00:00 |
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| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2025-12-08T00:00:00 |
| set_spec | type:COMM |