Impact of high frequency current ripple on supercapacitors ageing through floating ageing tests

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Source Proceedings of the 24th European Symposium Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
Author German, Ronan, Briat, Olivier, Sari, Ali, Venet, Pascal, Ayadi, Mohamed, Zitouni, Younes, Vinassa, Jean-Michel
Maintainer CCSD
Last Updated May 15, 2026, 14:14 (UTC)
Created May 5, 2026, 09:56 (UTC)
Identifier hal-00998341
Language en
contributor Ampère (AMPERE) ; École Centrale de Lyon (ECL) ; Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)
coverage Arcachon, France
creator German, Ronan
date 2013-09-30T00:00:00
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harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2026-03-10T00:00:00
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