Low frequency noise as diagnostic tools in sub-22nm MOSFET transistors
Data and Resources
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | Workshop " Oxydes Fonctionnels pour l'Intégration en Micro- et Nano-électronique " |
| Author | Cretu, Bogdan, Routoure, Jean-Marc, Carin, Régis, Simoen, E., Claeys, C. |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 5, 2026, 10:37 (UTC) |
| Created | May 5, 2026, 10:37 (UTC) |
| Identifier | hal-00994411 |
| Language | en |
| contributor | Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072 ; Groupe de Recherche en Informatique, Image et Instrumentation de Caen (GREYC) ; Université de Caen Normandie (UNICAEN) ; Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN) ; Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN) ; Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN) ; Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| coverage | Autrans, France |
| creator | Cretu, Bogdan |
| date | 2013-04-07T00:00:00 |
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| harvest_source_id | 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657 |
| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2025-08-12T00:00:00 |
| set_spec | type:COMM |