Analyse électrique des courants de fuite de HEMTs AlGaN/GaN sur SiC
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Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | Actes des JNM 2013 |
| Author | Rzin, Mehdi, Labat, Nathalie, Malbert, Nathalie, Curutchet, Arnaud, Brunel, Laurent, Lambert, Benoit |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 5, 2026, 12:01 (UTC) |
| Created | May 5, 2026, 12:01 (UTC) |
| Identifier | hal-00987763 |
| Language | fr |
| contributor | Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS) ; Université de Bordeaux (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| coverage | Paris, France |
| creator | Rzin, Mehdi |
| date | 2013-05-15T00:00:00 |
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| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2025-03-17T00:00:00 |
| set_spec | type:COMM |