Plasmon de surfaces métalliques et contrôle de champs EM à une échelle sub-longueur d'onde
Data and Resources
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | Tunisian-MRS |
| Author | Quemerais, Pascal |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 5, 2026, 14:55 (UTC) |
| Created | May 5, 2026, 14:55 (UTC) |
| Identifier | hal-00978307 |
| Language | fr |
| contributor | Optique et Matériaux (NEEL - OPTIMA) ; Institut Néel (NEEL) ; Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| creator | Quemerais, Pascal |
| date | 2007-04-07T00:00:00 |
| harvest_object_id | e4a551ca-e751-491b-9b41-05d6a7ac7404 |
| harvest_source_id | 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657 |
| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2025-09-27T00:00:00 |
| set_spec | type:COMM |