Radiation Effects on integrated circuits: origines, test methodologies and real life experiments
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Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | XV Reunión de Trabajo en Procesamiento de la Información y Control |
| Author | Velazco, Raoul |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 5, 2026, 16:01 (UTC) |
| Created | May 5, 2026, 16:01 (UTC) |
| Identifier | hal-00975378 |
| Language | en |
| contributor | Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (TIMA) ; Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| coverage | San Carlos de Bariloche, Argentina |
| creator | Velazco, Raoul |
| date | 2013-09-16T00:00:00 |
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| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2026-03-26T00:00:00 |
| set_spec | type:COMM |
