Mise en place d'un banc de caractérisation dynamique de circuits CMOS en couches minces
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Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | 7éme Journées Pédagogiques du CNFM |
| Author | Crand, Samuel, Gautier, G., Bonnaud, Olivier |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 6, 2026, 01:06 (UTC) |
| Created | May 6, 2026, 01:06 (UTC) |
| Identifier | hal-00959357 |
| Language | fr |
| contributor | Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR) ; Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| coverage | Saint Malo, France |
| creator | Crand, Samuel |
| date | 2002-11-27T00:00:00 |
| harvest_object_id | 8de3b88d-6dbe-4179-b1cc-e943aa88a400 |
| harvest_source_id | 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657 |
| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2023-03-24T00:00:00 |
| set_spec | type:COMM |