Toward a reliability analysis method of wide band gap power electronic components and modules
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Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | IMAPS-Europe European Microelectronics and Packaging Conference EMPC |
| Author | Parent, Guillaume, Massiot, Gregor, Rouet, Vincent, Munier, Catherine, Vidal, Paul-Etienne, Carrillo, Francisco |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 6, 2026, 05:30 (UTC) |
| Created | May 6, 2026, 05:30 (UTC) |
| Identifier | hal-00952709 |
| Language | en |
| Rights | https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/ |
| contributor | Laboratoire Génie de Production (LGP) ; Ecole Nationale d'Ingénieurs de Tarbes (ENIT) ; Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP) ; Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP) ; Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse) |
| coverage | Grenoble, France |
| creator | Parent, Guillaume |
| date | 2013-09-09T00:00:00 |
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| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2025-09-23T00:00:00 |
| set_spec | type:COMM |