Noise performance of frequency modulation Kelvin force microscopy

Data and Resources

Additional Info

Field Value
Source 5th International Workshop on Advanced Scanning Probe Microscopy Techniques, ASXMT 2014
Author Diesinger, H., Deresmes, D., Melin, Thierry
Maintainer CCSD
Last Updated May 6, 2026, 06:15 (UTC)
Created May 6, 2026, 06:15 (UTC)
Identifier hal-00951552
Language en
contributor Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN) ; Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
coverage Karlsruhe, Germany
creator Diesinger, H.
date 2014-05-06T00:00:00
harvest_object_id 56b821b7-1e05-4478-8b9c-ce165e77edb7
harvest_source_id 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657
harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2024-01-24T00:00:00
set_spec type:COMM