Determination of thicknesses of oxide films grown on titanium under argon irradiation by spectroscopic ellipsometry

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Source ISSN: 0022-3115
Author Do, Ngoc-Long, Garcia-Caurel, Enric, Bererd, Nicolas, Moncoffre, Nathalie, Gorse-Pomonti, Dominique
Maintainer CCSD
Last Updated May 6, 2026, 07:33 (UTC)
Created May 6, 2026, 07:33 (UTC)
Identifier hal-00949722
Language en
contributor Laboratoire des Solides Irradiés - Irradiated Solids Laboratory (LSI) ; Institut Rayonnement Matière de Saclay (DRF) (IRAMIS) ; Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-École polytechnique (X) ; Institut Polytechnique de Paris (IP Paris)-Institut Polytechnique de Paris (IP Paris)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
creator Do, Ngoc-Long
date 2014-01-11T00:00:00
harvest_object_id c1a126e2-a2e6-46fc-82a9-71eb48a868d7
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harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2026-01-29T00:00:00
relation info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1016/j.jnucmat.2014.01.010
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