High frequency noise characterisation of graphene FET Device
Data and Resources
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | 61st IEEE MTT-S International Microwave Symposium, IMS 2013 |
| Author | Mele, D., Fregonese, S., Lepilliet, Sylvie, Pichonat, E., Dambrine, Gilles, Happy, H. |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 7, 2026, 01:39 (UTC) |
| Created | May 7, 2026, 01:39 (UTC) |
| Identifier | hal-00944030 |
| Language | en |
| contributor | Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN) ; Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF) |
| coverage | Seattle, WA, United States |
| creator | Mele, D. |
| date | 2013-05-07T00:00:00 |
| harvest_object_id | 22e5b238-cc5a-4d26-9342-dc8ae0e45ac9 |
| harvest_source_id | 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657 |
| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2025-03-17T00:00:00 |
| relation | info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/MWSYM.2013.6697561 |
| set_spec | type:COMM |