Métallisations cuivre 3D pour des passifs performants et l'interconnexion de puces MMIC

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Source Métallisations cuivre 3D pour des passifs performants et l'interconnexion de puces MMIC
Author Ghannam, Ayad, Bourrier, David, Ourak, Lamine, Viallon, Christophe, Parra, Thierry
Maintainer CCSD
Last Updated May 7, 2026, 15:38 (UTC)
Created May 7, 2026, 15:38 (UTC)
Identifier hal-00924158
Language fr
Rights https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/
contributor Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS) ; Université Toulouse Capitole (UT Capitole) ; Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J) ; Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3) ; Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP) ; Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)
coverage Paris, France
creator Ghannam, Ayad
date 2013-05-14T00:00:00
harvest_object_id 77832eb5-a4d8-4932-9dfa-f7627e82d200
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harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2025-12-08T00:00:00
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