Analysis of the SiC VJFET gate punch-through and its dependence with the temperature
Data and Resources
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | Proceedings of the IEEE 15th European Conference on Power Electronics and Applications |
| Author | Dubois, Fabien, Bergogne, Dominique, Tournier, Dominique, Buttay, Cyril, Meuret, Régis, Morel, Hervé |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 9, 2026, 07:54 (UTC) |
| Created | May 9, 2026, 07:54 (UTC) |
| Identifier | hal-00874655 |
| Language | en |
| Rights | https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/ |
| contributor | Ampère (AMPERE) ; École Centrale de Lyon (ECL) ; Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE) |
| coverage | Lille, France |
| creator | Dubois, Fabien |
| date | 2013-09-03T00:00:00 |
| harvest_object_id | f75f9da9-8488-4ae8-b166-d38c9f5b41be |
| harvest_source_id | 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657 |
| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2026-03-10T00:00:00 |
| relation | info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/EPE.2013.6631963 |
| set_spec | type:COMM |