Thermal stability of SiC JFETs in conduction mode
Data and Resources
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | Proceedings of the IEEE 15th European Conference on Power Electronics and Applications |
| Author | Ouaida, Rémy, Buttay, Cyril, Riva, Raphaël, Bergogne, Dominique, Raynaud, Christophe, Morel, Florent, Allard, Bruno |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 9, 2026, 08:03 (UTC) |
| Created | May 9, 2026, 08:03 (UTC) |
| Identifier | hal-00874471 |
| Language | en |
| Rights | https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/ |
| contributor | Ampère (AMPERE) ; École Centrale de Lyon (ECL) ; Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE) |
| coverage | Lille, France |
| creator | Ouaida, Rémy |
| date | 2013-09-03T00:00:00 |
| harvest_object_id | cdf10123-3fb2-4d61-ac56-cfd91420f41e |
| harvest_source_id | 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657 |
| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2026-03-10T00:00:00 |
| relation | info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/EPE.2013.6631881 |
| set_spec | type:COMM |