A study of the effect of degradation of the aluminium metallization layer in the case of power semiconductor devices
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Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | ISSN: 0026-2714 |
| Author | Pietranico, Sylvain, Lefebvre, Stéphane, Pommier, Sylvie, Bouarroudj-Berkani, Mounira, Bontemps, Serge |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 9, 2026, 12:06 (UTC) |
| Created | May 9, 2026, 12:06 (UTC) |
| Identifier | hal-00869401 |
| Language | en |
| contributor | Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie (SATIE) ; École normale supérieure - Cachan (ENS Cachan)-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux (IFSTTAR)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Université de Cergy Pontoise (UCP) ; Université Paris-Seine-Université Paris-Seine-Conservatoire National des Arts et Métiers [Cnam] (Cnam)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| creator | Pietranico, Sylvain |
| date | 2011-09-02T00:00:00 |
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| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2025-11-14T00:00:00 |
| relation | info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1016/j.microrel.2011.06.009 |
| set_spec | type:ART |