Deposition by radio frequency magnetron sputtering of GaV4S8 thin films for resistive random access memory application

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Source ISSN: 0040-6090
Author Souchier, Emeline, Besland, Marie-Paule, Tranchant, Julien, Corraze, Benoît, Moreau, Philippe, Retoux, Richard, Estournès, Claude, Mazoyer, Pascale, Cario, Laurent, Janod, Etienne
Maintainer CCSD
Last Updated May 9, 2026, 15:07 (UTC)
Created May 9, 2026, 15:07 (UTC)
Identifier hal-00865622
Language en
Rights https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/
contributor Institut des Matériaux Jean Rouxel (IMN) ; Université de Nantes - UFR des Sciences et des Techniques (UN UFR ST) ; Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes (EPUN) ; Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
creator Souchier, Emeline
date 2013-04-30T00:00:00
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harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2026-01-12T00:00:00
relation info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1016/j.tsf.2012.11.051
set_spec type:ART