RF noise investigation in high-k/metal gate 28-nm CMOS transistors
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Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | Proceedings of 60th IEEE MTT-S International Microwave Symposium, IMS 2012 |
| Author | Tagro, Y., Poulain, L., Lepilliet, Sylvie, Dormieu, B., Gloria, D., Scheer, P., Dambrine, Gilles, Danneville, Francois |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 12, 2026, 16:07 (UTC) |
| Created | May 12, 2026, 16:07 (UTC) |
| Identifier | hal-00801049 |
| Language | en |
| contributor | Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN) ; Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF) |
| coverage | Montréal, Canada |
| creator | Tagro, Y. |
| date | 2012-05-12T00:00:00 |
| harvest_object_id | 0cbf48fa-14e9-4af3-acd6-a17f79161515 |
| harvest_source_id | 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657 |
| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2024-01-24T00:00:00 |
| relation | info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/MWSYM.2012.6259581 |
| set_spec | type:COMM |