100nm-gate InAlAs/InGaAs HEMTs on plastic flexible substrate with high cut-off frequencies

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Field Value
Source Proceedings of 24th International Conference on Indium Phosphide and Related Materials, IPRM 2012
Author Shi, J.S., Wichmann, Nicolas, Roelens, Yannick, Bollaert, S.
Maintainer CCSD
Last Updated May 12, 2026, 16:07 (UTC)
Created May 12, 2026, 16:07 (UTC)
Identifier hal-00801043
Language en
contributor Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN) ; Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
coverage Santa Barbara, CA, United States
creator Shi, J.S.
date 2012-05-12T00:00:00
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harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2024-01-24T00:00:00
relation info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/ICIPRM.2012.6403366
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