Analyse de défauts en surfaces et interfaces de semi-conducteurs III-N à large bande interdite appliqués à la micro et l'optoélectronique
Data and Resources
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | https://hal.science/hal-00800591 |
| Author | Mattalah, Maghnia |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 12, 2026, 18:30 (UTC) |
| Created | May 12, 2026, 18:30 (UTC) |
| Identifier | hal-00800591 |
| Language | fr |
| contributor | Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN) ; Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF) |
| creator | Mattalah, Maghnia |
| date | 2008-05-12T00:00:00 |
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| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2024-01-24T00:00:00 |
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