Toward fast calibration of global drift in scanning electron microscopes with respect to time and magnification.
Data and Resources
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | ISSN: 1559-9612 |
| Author | Malti, Abed Choaib, Dembélé, Sounkalo, Le Fort-Piat, Nadine, Arnoult, Claire, Marturi, Naresh |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 13, 2026, 03:11 (UTC) |
| Created | May 13, 2026, 03:11 (UTC) |
| Identifier | hal-00799099 |
| Language | en |
| Rights | https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/ |
| contributor | Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) (FEMTO-ST) ; Université de Technologie de Belfort-Montbeliard (UTBM)-Ecole Nationale Supérieure de Mécanique et des Microtechniques (ENSMM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Marie et Louis Pasteur (UMLP) ; Université Bourgogne Franche-Comté [COMUE] (UBFC)-Université Bourgogne Franche-Comté [COMUE] (UBFC) |
| creator | Malti, Abed Choaib |
| date | 2012-03-13T00:00:00 |
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| harvest_source_id | 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657 |
| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2026-05-13T00:00:00 |
| relation | info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1080/15599612.2012.663462 |
| set_spec | type:ART |