Low frequency noise model in N-MOS transistors operating from sub-threshold to above-threshold regions
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Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | ISSN: 0038-1101 |
| Author | Cordier, Christophe, Boukhenoufa, Abdelmalek, Pichon, Laurent, Michaud, Jean-François |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 15, 2026, 10:11 (UTC) |
| Created | May 15, 2026, 10:11 (UTC) |
| Identifier | hal-00772760 |
| Language | en |
| contributor | Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072 ; Groupe de Recherche en Informatique, Image et Instrumentation de Caen (GREYC) ; Université de Caen Normandie (UNICAEN) ; Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN) ; Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN) ; Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN) ; Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| creator | Cordier, Christophe |
| date | 2005-08-15T00:00:00 |
| harvest_object_id | 5f900ebf-a4bf-431c-8fb2-415d95e41021 |
| harvest_source_id | 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657 |
| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2025-07-04T00:00:00 |
| set_spec | type:ART |