Observation of the generation of stacking faults and active degradation measurements on off-axis and on-axis 4H-SiC PiN diodes
Data and Resources
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | ISSN: 0003-6951 |
| Author | Thierry-Jebali, Nicolas, Hassan, Jawad, Lazar, Mihai, Planson, Dominique, Bano, Edwige, Henry, Anne, Janzén, Erik, Brosselard, Pierre |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 28, 2026, 21:53 (UTC) |
| Created | May 28, 2026, 21:53 (UTC) |
| Identifier | hal-00769905 |
| Language | en |
| Rights | https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/ |
| contributor | Ampère (AMPERE) ; École Centrale de Lyon (ECL) ; Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE) |
| creator | Thierry-Jebali, Nicolas |
| date | 2012-05-28T00:00:00 |
| harvest_object_id | d0cabc16-a38d-43b1-a9a5-6f8abe1a1b26 |
| harvest_source_id | 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657 |
| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2026-03-10T00:00:00 |
| relation | info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1063/1.4768440 |
| set_spec | type:ART |