High temperature anti short circuit function for normally-on SiC JFET in an inverter leg configuration
Data and Resources
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | Proceedings of the 2012 IMAPS International Conference and Exhibition on High Temperature Electronics |
| Author | El Falahi, Khalil, Dubois, Fabien, Bergogne, Dominique, Phung, Luong Viet, Buttay, Cyril, Allard, Bruno |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | June 2, 2026, 16:23 (UTC) |
| Created | June 2, 2026, 16:23 (UTC) |
| Identifier | hal-00760372 |
| Language | en |
| contributor | Ampère (AMPERE) ; École Centrale de Lyon (ECL) ; Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE) |
| coverage | Albuquerque, United States |
| creator | El Falahi, Khalil |
| date | 2012-05-08T00:00:00 |
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| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2026-03-10T00:00:00 |
| set_spec | type:COMM |