Behavioral-Modeling Methodology to Predict Electrostatic-Discharge Susceptibility Failures at System Level : an IBIS Improvement
Data and Resources
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | Proceedings of the 10th Int. Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2011) |
| Author | Monnereau, Nicolas, Caignet, Fabrice, Nolhier, Nicolas, Trémouilles, David, Bafleur, Marise |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | November 4, 2026, 07:19 (UTC) |
| Created | November 4, 2026, 07:19 (UTC) |
| Identifier | hal-00722643 |
| Language | en |
| Rights | https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/ |
| contributor | Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS) ; Université Toulouse Capitole (UT Capitole) ; Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J) ; Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3) ; Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP) ; Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse) |
| coverage | YORK, United Kingdom |
| creator | Monnereau, Nicolas |
| date | 2011-09-26T00:00:00 |
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| harvest_source_id | 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657 |
| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2026-06-03T00:00:00 |
| set_spec | type:COMM |