PACOGEN : Automatic Generation of Pairwise Test Configurations from Feature Models

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Source Proc. of Int. Symp. on Soft. Reliability Engineering (ISSRE'11)
Author Hervieu, Aymeric, Baudry, Benoit, Gotlieb, Arnaud
Maintainer CCSD
Last Updated May 17, 2026, 22:07 (UTC)
Created May 17, 2026, 22:07 (UTC)
Identifier hal-00699558
Language en
Rights https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/
contributor Reliable and efficient component based software engineering (TRISKELL) ; Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA) ; Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Centre Inria de l'Université de Rennes ; Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)
coverage Hiroshima, Japan
creator Hervieu, Aymeric
date 2011-11-29T00:00:00
harvest_object_id af1be5bf-f184-42b5-b5e1-74b24960cb65
harvest_source_id 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657
harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2026-01-23T00:00:00
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