Study of the stability of 3C-SiC single crystals using high resolution diffuse X-ray scattering

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Field Value
Source 2010 WIDE BANDGAP CUBIC SEMICONDUCTORS: FROM GROWTH TO DEVICES:
Author Dompoint, Deborah, Boulle, Alexandre, Galben-Sandulache, I.G., Chaussende, D.
Maintainer CCSD
Last Updated May 22, 2026, 04:57 (UTC)
Created May 22, 2026, 04:57 (UTC)
Identifier hal-00686913
Language en
contributor Axe 3 : organisation structurale multiéchelle des matériaux ; Science des Procédés Céramiques et de Traitements de Surface (SPCTS) ; Université de Limoges (UNILIM)-Ecole Nationale Supérieure de Céramique Industrielle (ENSCI)-Institut des Procédés Appliqués aux Matériaux (IPAM) ; Université de Limoges (UNILIM)-Université de Limoges (UNILIM)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Limoges (UNILIM)-Ecole Nationale Supérieure de Céramique Industrielle (ENSCI)-Institut des Procédés Appliqués aux Matériaux (IPAM) ; Université de Limoges (UNILIM)-Université de Limoges (UNILIM)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
coverage Strasbourg, France
creator Dompoint, Deborah
date 2010-06-08T00:00:00
harvest_object_id 182c7f26-a081-4a6f-b664-7bb6e86dc577
harvest_source_id 3374d638-d20b-4672-ba96-a23232d55657
harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2025-09-27T00:00:00
relation info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1063/1.3518314
set_spec type:COMM