Die Attach of Power Devices Using Silver Sintering - Bonding Process Optimization and Characterization

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Field Value
Source Proceedings of the High Temperature Electronics Network conference
Author Buttay, Cyril, Masson, Amandine, Li, Jianfeng, Johnson, Mark, C., Lazar, Mihai, Raynaud, Christophe, Morel, Hervé
Maintainer CCSD
Last Updated May 27, 2026, 16:56 (UTC)
Created May 27, 2026, 16:56 (UTC)
Identifier hal-00672619
Language en
Rights https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/
contributor Ampère (AMPERE) ; École Centrale de Lyon (ECL) ; Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)
coverage Oxford, United Kingdom
creator Buttay, Cyril
date 2011-07-18T00:00:00
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harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2026-03-10T00:00:00
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