Thermal stability of silicon-carbide power diodes

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Source ISSN: 0018-9383
Author Buttay, Cyril, Raynaud, Christophe, Morel, Hervé, Civrac, Gabriel, Locatelli, Marie-Laure, Morel, Florent
Maintainer CCSD
Last Updated May 27, 2026, 18:43 (UTC)
Created May 27, 2026, 18:43 (UTC)
Identifier hal-00672440
Language en
Rights https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/
contributor Ampère (AMPERE) ; École Centrale de Lyon (ECL) ; Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon) ; Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)
creator Buttay, Cyril
date 2012-03-27T00:00:00
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harvest_source_title test moissonnage SELUNE
metadata_modified 2026-03-10T00:00:00
relation info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1109/TED.2011.2181390
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