Characterization of the Electromagnetic Susceptibility of Integrated Circuits using a Near Field Scan
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Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | ISSN: 0013-5194 |
| Author | Boyer, Alexandre, Ben Dhia, Sonia, Sicard, Etienne |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 28, 2026, 20:19 (UTC) |
| Created | May 28, 2026, 20:19 (UTC) |
| Identifier | hal-00669747 |
| Language | en |
| Rights | https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/ |
| contributor | Laboratoire Toulousain de Technologie et d'Ingénierie des Systèmes (LATTIS) ; Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J) ; Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-IUT Toulouse 2 Blagnac ; Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J) ; Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J) ; Communauté d'universités et établissements de Toulouse (Comue de Toulouse) |
| creator | Boyer, Alexandre |
| date | 2007-01-04T00:00:00 |
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| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2025-09-23T00:00:00 |
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