Understanding of the Retarded Oxidation Effects in Silicon Nanostructures
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Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | ISSN: 0003-6951 |
| Author | Krzeminski, Christophe, Han, Xiang-Lei, Larrieu, Guilhem |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 24, 2026, 22:23 (UTC) |
| Created | May 24, 2026, 22:23 (UTC) |
| Identifier | hal-00643617 |
| Language | en |
| Rights | https://about.hal.science/hal-authorisation-v1/ |
| contributor | Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN) ; Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF) |
| creator | Krzeminski, Christophe |
| date | 2012-05-24T00:00:00 |
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| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2025-10-22T00:00:00 |
| relation | info:eu-repo/semantics/altIdentifier/doi/10.1063/1.4729410 |
| set_spec | type:ART |