Optimisation des contrôles dans la fabrication des semiconducteurs
Data and Resources
Additional Info
| Field | Value |
|---|---|
| Source | ROADEF (13ème congrès annuel de la société française de Recherche Opérationnelle et d'Aide à la Décision) |
| Author | Nduhura Munga, Justin, Dauzère-Pérès, Stéphane, Yugma, Claude, Vialletelle, Philippe |
| Maintainer | CCSD |
| Last Updated | May 22, 2026, 02:05 (UTC) |
| Created | May 22, 2026, 02:05 (UTC) |
| Identifier | emse-00687290 |
| Language | fr |
| contributor | Département Sciences de la Fabrication et Logistique (SFL-ENSMSE) ; École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE) ; Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-CMP-GC |
| coverage | Angers, France |
| creator | Nduhura Munga, Justin |
| date | 2012-04-11T00:00:00 |
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| harvest_source_title | test moissonnage SELUNE |
| metadata_modified | 2026-01-19T00:00:00 |
| set_spec | type:COMM |